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元気なモノ作り中小企業300社


アルファクス株式会社

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2008年度

本コンテンツは、経済産業省発行の冊子に基づくため、内容は掲載当時のものであり、現在とは異なる場合もあります。また、修正等には対応できませんことご了承ください。


代表取締役社長
石塚 静

半導体検査装置で国内トップシェア

  • 神奈川県川崎市中原区下新城3-13-13
  • 1979年(昭和54年)設立
  • TEL 044-755-6661
  • http://www.alphax.co.jp/
世界で初めて、半導体レーザーの性能が分かるだけでなく、その製品の良否も判定できる半導体検査装置の開発・販売に成功し、今では半導体レーザー検査装置でシェア60%を誇る。

半導体レーザー検査装置でシェア60%

同社は、世界で初めて、半導体レーザーの性能が分かるだけでなく、その製品の良否も判定できる半導体検査装置の開発・販売に成功した。しかし、当初の装置は、10個の半導体レーザーをカートリッジに埋め込み、性能を1つずつ順番に測っていたため、10個を調べるのに20分近くかかってていた。その後の開発により、半導体レーザーのいろいろな性能を同時並行的に測定し、1個当たりの測定時間を3秒以内と従来の装置より40倍以上早く測定ができる装置の開発・販売に成功したことで、今では、半導体レーザー検査装置でシェア60%を獲得し、国内有数のメーカーとして君臨している。

ニーズに合わせた半導体レーザー検査装置

今では、顧客ニーズに基づき、様々な機種の検査装置を開発・販売している。例えば、パッケージ化された半導体レーザーで最大2000素子の電気的諸特性(順電流対光出力、順電流対電圧、レーザーの波長、レーザービームの拡がり角、偏光角など)を高速に自動測定・選別する装置やチップ状態の半導体レーザーを低温、常温及び高温状態で高速に測定し、特性別に分類する装置がある。その他にも、槽内密閉による外部温度コントローラ機能を有することで、半導体レーザーの電気的・光学的諸特性の温度依存性を自動測定できる装置もある。

高速半導体レー ザーチップ特性評 価装置高速CANタイプ 半導体レーザー 特性評価装置半導体レザー 温度特性評価 装置

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